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Abstract
1. 서론
2. 웨이퍼 푸루버(Wafer Prober) 기반 TSV 테스트
3. 커패시티브 커플링 기반 비접촉 TSV 테스트
4. 아이 패턴을 사용한 TSV 특성 비교
5. 활용방안 및 향후 연구
References
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