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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2015.11
- 수록면
- 4,239 - 4,243 (5page)
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We develop the thermal characterization technique for measuring the thermal conductivity of the nanomaterials by utilizing the High Vacuum Scanning Thermal Wave Microscopy(HV-STWM), which enables to measure the phase lag and amplitude of thermal waves quantitatively with nanoscale spatial resolution in a high vacuum environment. The HV-SWTM measurement method obtains the thermal conductivity by measuring the thermal diffusivity, which has only a phase lag relative to the distance corresponding to the transferred thermal wave. It is not affected by the thermal contact resistances between the heat source and nanostructure and between the nanostructure and probe. In this study, we quantitatively measure the thermal conductivity of the Bi₂Te₃ nanowire(1.47 W/mK), with the newly developed thermal characterization method based on HV-STWM.
목차
Abstract
1. 서론
2. 계측 원리
3. 수학적 모델링
4. 샘플제작
5. Experiment result and discussion
7. 결론
참고문헌
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