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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- 대한전자공학회 IEIE Transactions on Smart Processing & Computing IEIE Transactions on Smart Processing & Computing Vol.5 No.1
- 발행연도
- 2016.2
- 수록면
- 10 - 16 (7page)
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In this paper, a design for a fully digital voltage sensor using a 32-nm fin-type field-effect transistor (FinFET) is presented. A new characteristic of the double gate p-type FinFET (p-FinFET) is examined and proven appropriate for sensing voltage variations. On the basis of this characteristic, a novel technique for designing low-power voltage-to-time converters is presented. Then, we develop a digital voltage sensor with a voltage range of 0.7 to 1.1V at a 50-mV resolution. The performance of the proposed sensor is evaluated under a range of voltages and process variations using Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis (SPICE) simulations, and the sensor is proven capable of operating under ultra-low power consumption, high linearity, and fairly high–frequency conditions (i.e., 100 MHz).
목차
Abstract
1. Introduction
2. Controllable Delay Elements
3. Proposed Digital Voltage Sensor
4. Simulation Results
5. Conclusion
References
참고문헌 (18)
참고문헌 신청
B. Swahn, H. Soha, “Gate sizing: FinFETs vs. 32 nm bulk MOSFETs,” Design Automation Conference, 43rd ACM/IEEE, pp. 528-531, 2006. Article (CrossRef Link)
J. Muttreja, N. Agarwal, N. K. Jha, “CMOS logic design with independent-gate FinFETs,’ 25th International Conference on Computer Design, ICCD 2007, pp. 560-567, 7-10 Oct. 2007. Article (CrossRef Link)
B.H. Calhoun, Yu Cao, Xin Li, Ken Mai, L.T. Pileggi, R.A. Rutenbar, K.L. Shepard, “Digital circuit design challenges and opportunities in the era of nanoscale CMOS,” in Proceedings of the IEEE, vol. 96, no. 2, pp. 343-365, Feb. 2008. Article (CrossRef Link)
G. W. Roberts, M. Ali-Bakhshian, “A brief introduction to time-to-digital and digital-to-time converters,” IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, vol. 57, no. 3, pp. 153-157, Mar. 2010. Article (CrossRef Link)
S. W. Chen, M. H. Chang, W. C. Hsieh, W. Hwang, “Fully on-chip temperature, process, and voltage sensors,” in Proceedings of 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), pp. 897-900, May 2010. Article (CrossRef Link)
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