Vibration Load Characterization for Reliability Physics Analysis (RPA) of Electronic Device

Thanh-Long Nguyen; Hyeong-Ahn Kwon

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: Thanh-Long Nguyen (엑슬리트엣지) Hyeong-Ahn Kwon (엑슬리트엣지)

저널정보: 한국항공우주학회 한국항공우주학회 학술발표회 초록집 한국항공우주학회 2023년도 춘계학술대회

발행연도: 2023.4

수록면: 451 - 451 (1page)

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구엔탕롱

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