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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
김성주 (Korea National University of Transportation) 김경범 (Korea National University of Transportation)
저널정보
한국생산제조학회 한국생산제조학회지 한국생산제조학회지 Vol.26 No.6
발행연도
2017.12
수록면
570 - 576 (7page)
DOI
10.7735/ksmte.2017.26.6.570

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2017

철강후판 검사를 위한 웨이블릿 기반 판별함수 모델링 및 최적 조명계 선정
김성주 ,  김경범 한국생산제조학회지 2017.12 학술저널

2016

철강 후판의 표면 검사를 위한 간이 조명계 변수 최적화
김성주 ,  조은덕 ,  김경범 한국생산제조학회 학술발표대회 논문집 2016.11 학술대회자료

초록· 키워드

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As the demand for high-quality steel plate has increased, the automatic inspection of steel plates has become very important. In this study, a wavelength-based dome illumination mechanism was constructed to analyze the reflection characteristics of the steel plate surface with low contrast, uneven reflection, and no features. In order to cope with these three specific characteristics, a discriminant measure based on the discrete wavelet transform was modeled to enhance the contrast of the image, to emphasize the features and quantify the degree of discrimination between the defect and defect-free regions. As a result, it was confirmed that the degree of discrimination was improved from at least 18% up to 68% in the images using RGB dome illumination and green coaxial illumination.
#Steel plate #Discrete wavelet transform #Discriminant measure #Dome illumination #Combined illumination #Optimum illumination

목차

ABSTRACT
1. 서론
2. 철강 후판 대표 결함의 분석
3. 삼파장 돔조명 메커니즘
4. 이산 웨이블릿 변환 기반 판별기준 함수
5. 최적 조명메커니즘 선정 실험
6. 결론
References

참고문헌 (11)

참고문헌 신청
Neogi, N., Mohanta, D. K., Dutta, P. K., 2014, Review of Vision-Based Steel Surface Inspection Systems, EURASIP Journal on Image and Video Processing, 2014:1 1-5. Kim, S. Y., Kim, G. B., 2016, Classification Performance Analysis of Silicon Wafer Micro-Cracks Based on SVM, Journal of Korean Society of Precision Engineering, 33:9 715-721. Agarwal, K., Shivpuri, R., Zhu, Y., Chang, T. S., Huang, H., 2010, Process Knowledge Based Multi-class Support Vector Classification (PK-MSVM) Approach for Surface Defects in Hot Rolling, Expert Systems with Applications, 38:6 7251-7262. Seo, H. J.,Kim, K. B., 2015, A Study on Classification of Micro-Cracks in Silicon Wafer Through the Fusion of Principal Component Analysis and Neural Network, Journal of Korean Society of Precision Engineering, 32:5 463-470. Moon, C. I., Choi, S. H., Kim, G. B., Kim, C. H., Joo, W. J., 2007, Development of a Neural Network Classifier for the Classification of Surface Defects of Cold Rolled Strips, Journal of the Korean Society for Precision Engineering, 24:4 76-83.

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