연삭 단계 반사경의 형상 측정을 위한 중적외선 파면 검출 시스템

송인웅; 양호순; 김옥관; 김석환

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: 송인웅 (연세대학교) 양호순 (한국표준과학연구원) 김옥관 (한국표준과학연구원) 김석환 (연세대학교)

저널정보: Korean Society for Precision Engineering 한국정밀공학회 학술발표대회 논문집 한국정밀공학회 2017년도 추계학술대회 논문집

발행연도: 2017.12

수록면: 248 - 248 (1page)

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김석환

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주요연구분야 자연과학 > 물리학 공학 > 기계공학 > 기계공학 일반

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