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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
최윤희 (충북대학교) 사공영진 (충북대학교) 주진원 (충북대학교)
저널정보
대한기계학회 대한기계학회 논문집 A권 대한기계학회논문집 A권 제45권 제1호(통권 제424호)
발행연도
2021.1
수록면
17 - 26 (10page)
DOI
10.3795/KSME-A.2021.45.1.017

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온도 변화가 발생하면 반도체 패키지를 구성하는 재료들의 열팽창 계수 차이로 인하여 열변형이 발생하고, 이 변형은 반도체의 성능 저하, 응력집중 및 파손 등의 원인이 될 수 있다. 본 논문에서는 DIC를 이용한 2차원 변위 측정을 위하여 이미지 상관계수를 기본으로 한 프로그램을 작성하였다. 외팔보 변형 장치를 포함한 DIC 실험 장치를 구성하여 DIC 측정 결과를 평가한 결과, 화소 추적에 의해 측정된 변위는 비교적 큰 변위뿐만 아니라 미소한 변위 영역에까지도 정확하고 신뢰성 있게 측정되었음을 알 수 있었다. DIC 측정법을 이용하여 온도 변화에 따라 복잡한 거동을 보인 반도체 패키지의 굽힘 변형을 상세하게 측정할 수 있었으며, PCB가 결합된 WB-PBGA 패키지 솔더볼의 전단 변형을 평가하였다.

목차

초록
Abstract
1. 서론
2. DIC 방법 및 측정시스템 구성
3. DIC 영상처리 프로그램 및 평가
4. 반도체 패키지의 열변형 측정에의 적용
5. 결론
참고문헌(References)

참고문헌 (13)

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