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학술대회자료
저자정보
김문정 (공주대학교)
저널정보
한국정보기술학회 Proceedings of KIIT Conference 한국정보기술학회 2021년도 추계종합학술대회 및 대학생논문경진대회
발행연도
2021.11
수록면
273 - 275 (3page)

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일반적으로 반도체 패키지 테스트용 프로브 핀의 저항은 작은 값을 가지고 있으며, 소형 프로브 핀일수록 접촉저항은 전체 저항에서 큰 비중을 차지하고 된다. 본 논문은 프로브 핀이 S-파라미터에 미치는 영향을 분석하였다. 3차원 전자장 시뮬레이션을 통하여 프로브 핀의 S-파라미터를 계산하고, 접촉저항을 S-파라미터 양단에 직렬 ^_@span style=color:#999999 ^_# ... ^_@/span^_#^_@a href=javascript:; onclick=onClickReadNode('NODE10664542');fn_statistics('Z354','null','null'); style='color:#999999;font-size:14px;text-decoration:underline;' ^_#전체 초록 보기^_@/a^_#
#contact resistance #S-parameter #probe pin #insertion loss #return loss

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