Bonding Property of Flip-Chip Chip-Scale Package with Vacuum Reflow and Thermal Compression Bonding Processes

So-Hee Hyun; Hye Min Lee; Mi-Song Kim; Won Sik Hong

추천

검색

질문

자료유형: 학술저널

저자정보: So-Hee Hyun (Korea Electronics Technology Institute) Hye Min Lee (Korea Electronics Technology Institute) Mi-Song Kim (Korea Electronics Technology Institute) Won Sik Hong (Korea Electronics Technology Institute)

저널정보: 대한용접·접합학회 대한용접·접합학회지 大韓熔接·接合學會誌第41卷第5號

발행연도: 2023.10

수록면: 387 - 395 (9page)

이용수

📌

연구주제

📖

연구배경

🔬

연구방법

🏆

연구결과

초록· 키워드

오류제보하기

The package-on-package technology has been developed to facilitate high-density integration of semiconductor packaging. As the solder bump pitch is decreased, the void content in solder bump joints increases, thereby decreasing its reliability. Consequently, vacuum reflow (VR) is used to increase void fluidity and decrease void content in micro bump joints. Generally, silicon chips in application processor modules are bonded using thermal compression (TC) bonding, followed by the attachment of passive components through hot air reflow soldering. However, the simultaneous bonding of Si chips and passive components using VR can improve productivity.
In this study, we performed TC and VR bonding without additional solder pastes, between an Si chip with a Cu pillar/Sn-2.5Ag bump and a bismaleimide triazine substrate plated with electroless-nickel electroless-palladium immersion-gold. It was observed that the void content at the Si chip solder joints yielded by VR (10.8%) was similar to that yielded by TC (11.2%). Furthermore, the Si chip solder joint of the VR sample was thicker than that of the TC sample. This process also resulted in the formation of the intermetallic compounds Cu6Sn5, (Cu,Ni)6Sn5, Ag3Sn, and Ni3P, at the Si chip solder joints. The results of this study suggest that co-bonding of active and passive components is possible through VR soldering for semiconductor packaging.

#Flip-chip chip-scale package (FC-CSP) #Package on package (PoP) #Panel level package (PLP) #Thermal compression bonding #Vacuum reflow soldering

참고문헌 (0)

참고문헌 신청

참고문헌이 DBpia에서 서비스 중이라면, [참고문헌 신청]을 통해 등록해보세요

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

So-Hee Hyun

소속기관 전자부품연구원

주요연구분야 공학 > 기계공학 > 기계공학 일반

논문수 2 이용수 48

이혜민

소속기관 서울과학기술대학교

주요연구분야 공학 > 기계공학 > 기계공학 일반

논문수 22 이용수 610

김미송

소속기관 한국전자기술연구원

주요연구분야 공학 > 기계공학 > 기계공학 일반 TOP 5%

논문수 67 이용수 2,865

홍원식

소속기관 한국전자기술연구원

주요연구분야 공학 > 기계공학 > 기계공학 일반 TOP 1% 공학 > 산업공학

논문수 158 이용수 8,083

최근 본 자료

전체보기

UCI(KEPA) : I410-151-24-02-088304932

구분	그룹	데이터 항목
AI 학습용 데이터	원문	원문 PDF 파일
AI 학습용 데이터	원문 + 메타 (기본/상세)	원문 PDF 파일 및 서지정보 CSV
대량 구매용 데이터	B2B 구독 방식	특정 자료 한정으로 원문 접근 권한 부여
대량 구매용 데이터	URL 전달 방식	바로 PDF 뷰어를 열람할 수 있는 URL 제공

구분	그룹	데이터 항목
AI 학습용 데이터	기본 메타	발행기관명, 간행물명, 권호명, 권(vol), 호(issue), 통권, 발행연도, 발행월, 논문명, 저자명, 시작페이지, 종료페이지, 전체페이지, 상세페이지URL
상세 메타 데이터	발행기관 메타	발행기관 이명, 영문명, 창립연도, 홈페이지URL, 발행기관 소개
	간행물 메타	부제목, 간행물 유형, ISSN, ISBN, 최초발행연도, 폐간연도, 간행빈도, 발행주기, 등재사항, 이용수, 피인용수, 권호수, 논문수, 표지이미지
	논문 메타	작성 언어, 부제목, 대등제목, 목차, 키워드, 초록, 이미지, 참고문헌, 이용수, 피인용수, 논문활용도, DBpia통합주제분류, KDC분류, DDC분류, 한국연구재단분류, UCI, DOI
	저자 메타	소속기관, 소속부서, 직급, 연구분야, 연구키워드, 이용수, 피인용수, 저자 논문활용도

구분	그룹	데이터 항목
※ 결합형/맞춤형 메타 데이터는 신청 내용에 따라 다양하게 제공 가능
이용순위 정보	주제분야별 많이 이용된 논문	“인문학”에서 많이 이용된 논문 TOP100
	이용기관별 많이 이용된 논문	“중고등학교”에서 많이 이용된 논문 TOP100
	세부기관별 많이 이용된 논문	“서울대학교”에서 많이 이용된 논문 TOP100
	키워드별 많이 이용된 논문	“Chat GPT”에서 많이 이용된 논문 TOP100
키워드 정보	많이 이용된 키워드	특정기간/분야/저널 내 많이 이용된 키워드
	많이 발행된 키워드	특정기간/분야/저널 내 많이 발행된 키워드
	많이 검색된 키워드	특정기간/분야/저널 내 많이 검색된 키워드
	연구 트렌드 키워드	특정 키워드 연관 연구동향 분석 데이터 키워드

논문 기본 정보

초록· 키워드

AI 요약

연구주제

연구배경

연구방법

연구결과

주요내용

목차

참고문헌 (0)

함께 읽어보면 좋을 논문

이 논문의 저자 정보

최근 본 자료

댓글(0)