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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
이동현 (충남대학교) 염경환 (충남대학교)
저널정보
한국전자파학회 한국전자파학회논문지 韓國電磁波學會論文誌 第26卷 第12號
발행연도
2015.12
수록면
1,072 - 1,082 (11page)

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본 논문에서는 스펙트럼 분석기를 이용하여 잡음 파라미터를 측정하는 2가지 방법을 제안하였다. 제안된 첫 번째 방법은 6-포트 회로망을 이용하여 잡음상관행렬을 측정하고, 이를 통해 잡음파라미터를 결정하는 방법이다. 그리고 제안된 두 번째 방법은 전원 임피던스의 변화에 따른 DUT의 잡음지수를 직접 측정하고, 이를 통해 잡음파라미터를 추출하는 방법이다. 전원 임피던스의 변화에 따른 잡음지수를 측정을 위해 스펙트럼 분석기를 이용, 임의의 전원 임피던스를 갖는 DUT의 잡음지수를 측정하는 방법과 전원 임피던스의 변화를 위해 사용한 임피던스 튜너가 DUT에 주는 잡음영향을 제거하는 방법을 보였다. 제안된 2가지의 방법으로 수동 및 능동 DUT에 대한 잡음파라미터를 측정하였고, 이를 비교하였다. 비교 결과, 2가지 방법에 대한 잡음 파라미터 결과가 일치하였다. 2가지 방법의 잡음 파라미터 결과가 일치하는 것은 6-포트 회로망으로 측정된 잡음파라미터가 전원 임피던스의 변화에 따라 측정된 DUT의 잡음지수를 정확히 예측한다는 것을 의미하며, 이를 통해 6-포트 회로망으로 측정된 잡음 파라미터 결과가 검증되었다.
#Spectrum Analyzer #6-Port Network #Noise Figure #Impedance Tuner

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 스펙트럼 분석기와 6-포트 회로망을 이용한 잡음파라미터 측정
Ⅲ. 스펙트럼 분석기를 이용한 잡음지수 측정과 잡음 파라미터 추출
Ⅳ. 결과 비교 및 검증
Ⅴ. 결론
References

참고문헌 (11)

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[학술지(정기간행물)] - IRE Subcommittee on Noise / 1960 / IRE standards on methods of measuring noise in linear two ports 1959 / Proc. IRE 48 : 60 ~ 68 google schola [학술지(정기간행물)] - R. Q. Lane / 1969 / The determination of device noise parameter / Proc. IEEE 57 : 1461 ~ 1462 google schola [학술지(정기간행물)] - M. S. Gupta / 1970 / Determination of the noise parameters of a linear 2-port / Electron. Lett. 6 (17) : 543 ~ 544 google schola [학술지(정기간행물)] - A. -R. Ahmed / 2014 / An extraction of two-port noise parameters from measured noise powers using an extended six-port network / IEEE Trans. on Microwave Theory and Tech. 62 (10) : 2423 ~ 2434 google schola [학술지(정기간행물)] - 염경환 / 2015 / 6-포트 회로망을 이용한 잡음 파라미터 측정 / 한국전자파학회 논문지 26 (2) : 119 ~ 126 dbpia

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