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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
백선재 (중앙대학교) 이민혁 (중앙대학교)
저널정보
한국통신학회 한국통신학회 학술대회논문집 2022년도 한국통신학회 동계종합학술발표회 논문집
발행연도
2022.2
수록면
1,158 - 1,159 (2page)

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기존 산업현장에서는 반도체 웨이퍼 맵을 직접 확인하여 불량을 선별하였다. 육안을 통한 웨이퍼 선별과정은 폭증하는 시장의 수요를 충족시킬 수 없다. 따라서 인간보다 신속‧ 정확한 반도체 웨이퍼 불량을 검출하여, 자동화에 기여할 수 있는 AI 기술을 제시한다. 인공지능 모델의 입력 데이터로는 생성적 ^_@span style=color:#999999 ^_# ... ^_@/span^_#^_@a href=javascript:; onclick=onClickReadNode('NODE11047926');fn_statistics('Z354','null','null'); style='color:#999999;font-size:14px;text-decoration:underline;' ^_#전체 초록 보기^_@/a^_#

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